國產(chǎn)劃片機(jī) 2021-12-29
在晶圓完成所有的生產(chǎn)工藝后,第一個(gè)主要優(yōu)品率就被計(jì)算出來了。對此優(yōu)品率有多種不同的叫法,如國產(chǎn)劃片機(jī)漢為優(yōu)品率、生產(chǎn)線做了優(yōu)化品率、累積晶圓廠優(yōu)品率或"CUM”優(yōu)品率。
無論怎么命名,都是用完成生產(chǎn)的晶圓總數(shù)除以,總投入片數(shù)的一個(gè)百分比來表示。不同類型的產(chǎn)品擁有不同的元件、特征工藝尺寸和密度因子。將會針對產(chǎn)品類型而不是對整個(gè)生產(chǎn)線計(jì)算出一個(gè)優(yōu)品率。
要得到CUM 優(yōu)品率,需要首先計(jì)算各制程站優(yōu)品率,即以離開單一制程站的晶圓數(shù)比進(jìn)入此制程站的晶圓數(shù):
優(yōu)品率=窗開此制程站的晶圖數(shù)/進(jìn)人此制程站的晶圓數(shù)
將各制程站優(yōu)品率依次相乘就可得出整體的晶圓生產(chǎn) CUM 優(yōu)品率:
晶圓生產(chǎn) CUM 優(yōu)品率=優(yōu)品率(制程站 1)x優(yōu)品率(制程站 2)x …x 優(yōu)品率(制程站 n)。
白帽優(yōu)化網(wǎng)為漢為科技提供圖例展示
我們列出了一個(gè)11步的晶圓工藝制程,與我們在以前使用的方法一樣。圖中第3列列出了各制程站的典型優(yōu)品率。累積優(yōu)品率列在第5列。對單一產(chǎn)品來說,從制程優(yōu)晶率計(jì)算出的 CUM優(yōu)品率與通過晶圓進(jìn)出計(jì)算出的優(yōu)品率是相同的,輸出的晶圓數(shù)除以輸人的晶圓數(shù)。也就是說,對這一產(chǎn)品累積優(yōu)品率與簡單方法算出的 CUM 優(yōu)品率是相等的。值得注意的是即使單個(gè)制程站具有非常高的優(yōu)品率,CUM 優(yōu)品率也將隨著晶圓通過工藝?yán)^續(xù)降低。現(xiàn)代的集成電路將需要 300-500 工藝步驟,這對維持有收益的生產(chǎn)率將是巨大的挑戰(zhàn)。成功的晶圓制造運(yùn)營必須使累積制造優(yōu)品率超過90%才能保持盈利和具有競爭性。
晶圓生產(chǎn)CUM 優(yōu)品率在50%到95%之間,取決于一系列的因素。計(jì)算出來的 CUM優(yōu)品率被用于計(jì)劃生產(chǎn),或被工程部和管理者作為工藝有效性的一個(gè)指標(biāo)。
在芯片產(chǎn)業(yè)中,還有一個(gè)把晶圓切割的工作需要處理,這是直接影響芯片優(yōu)品率的又一重要環(huán)節(jié),這就需要對劃片機(jī)的精度和穩(wěn)定性有絕對的要求。